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上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)納米新材料研究測(cè)試方案

日期：2014-06-13瀏覽：1682次

    納米技術(shù)日益成為科學(xué)技術(shù)向前發(fā)展趨勢(shì)的主導(dǎo)技術(shù)。納米級(jí)科學(xué)和工程將基礎(chǔ)研究和教育的進(jìn)步，電子和光電器件的進(jìn)步以及半導(dǎo)體制造、生物技術(shù)、替代能源和工業(yè)制造的顯著變化。上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司致力于納米新材料研究測(cè)試方案，使用吉時(shí)利6430型亞fA程控源表Measures currents with 400aA (400x10-18A是負(fù)18次方安培，也就是亞安) Sensitivity ，采用4 線連接至碳納米管進(jìn)行測(cè)量。


    測(cè)量這些材料的一種zui常用的測(cè)量技術(shù)是使用 4 線或 “Kelvin” 測(cè)量。采用 Kelvin 測(cè)量技術(shù)時(shí)，需要第二組探頭用于感測(cè)。因?yàn)檫@些探頭中的電流可忽略不計(jì)，所以只用測(cè)量 DUT 兩端的壓降。因此，電阻測(cè)量或 I-V 曲線發(fā)生就更準(zhǔn)確了。


    在器件開發(fā)過程中，類似納米線、碳納米管和納米晶體的結(jié)構(gòu)常常表現(xiàn)出與眾不同的特點(diǎn)。分析這些特點(diǎn)而不損壞*的結(jié)構(gòu)需要能對(duì)源進(jìn)行嚴(yán)格控制的系統(tǒng)，以防止器件自發(fā)熱。吉時(shí)利測(cè)量?jī)x器將這種嚴(yán)格控制與超快測(cè)量速度和靈敏度結(jié)合在靈活、模塊化的結(jié)構(gòu)中從而很容易適應(yīng)不斷變化的測(cè)試要求。


    吉時(shí)利4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)中的吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境 (KITE) 允許任何納米科學(xué)領(lǐng)域的研究人員培養(yǎng)輕松、快捷地配置測(cè)量測(cè)試的能力。KITE 是一款用于納米材料和器件以及半導(dǎo)體器件特性分析的應(yīng)用程序。測(cè)試中的源和測(cè)量功能由源測(cè)量單元(輸出并測(cè)量直流電壓和電流的電子儀器) 提供。測(cè)試能力的擴(kuò)展可以通過各種外部組件的支持實(shí)現(xiàn)。這是碳納米管 I-V 測(cè)試的設(shè)置范例以及單壁碳納米管的 I-V 掃描結(jié)果。

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