產(chǎn)品名稱:愛斯佩克ESPEC絕緣電阻劣化離子遷移AMI-U
產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2024-08-18
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
中國(guó)電子行業(yè)儀器優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商——堅(jiān)融實(shí)業(yè)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友儀器JETYOO INSTRUMENTS,Support、銷售Sale、服務(wù)Service,3S公司,專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供愛斯佩克ESPEC絕緣電阻劣化離子遷移AMI-U
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我們銷售的每一臺(tái)儀器都附有制造廠商出具的合格證書及檢測(cè)計(jì)量報(bào)告。保證產(chǎn)品功能完好,附件齊全,指標(biāo)達(dá)到出廠標(biāo)準(zhǔn)。公司同時(shí)設(shè)有維修部,每臺(tái)儀器都提供三年或一年的保修,終身維護(hù),可免除您的后顧之憂。
愛斯佩克ESPEC絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng),愛斯佩克ESPEC絕緣電阻劣化離子遷移AMI-U主要應(yīng)用領(lǐng)域
電子產(chǎn)品因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象日益突出,本系統(tǒng)搭配以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng),高精度連續(xù)監(jiān)測(cè),高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化等問題。
●助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料
●BGA、 CSP 等精細(xì)節(jié)距 IC 封裝件
●有機(jī)半導(dǎo)體相關(guān)(有機(jī) EL)
●電容、連接器等其他電子元器件及材料
●各種絕緣材料的吸濕性特性評(píng)估
愛斯佩克ESPEC絕緣電阻劣化離子遷移AMI-U主要特點(diǎn)
•高精準(zhǔn)測(cè)量
自主開發(fā)連續(xù)通電掃描繼電器方式,配備國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量?jī)x表,與環(huán)境試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng),操作更簡(jiǎn)便更安全。
•應(yīng)力電壓范圍廣泛
標(biāo)配 100V 應(yīng)力電壓(應(yīng)力電壓/測(cè)量電壓),更有 1000V、 2500V 高電壓可選。
•連續(xù)通電掃描方式
掃描動(dòng)作技術(shù),切換掃描時(shí)不發(fā)生無(wú)電壓狀態(tài),測(cè)量電壓與偏置電壓均使用同一電壓源控制,可準(zhǔn)確控制電壓。
•漏電流檢測(cè)功能
高速準(zhǔn)確捕捉離子遷移現(xiàn)象發(fā)生的細(xì)微變化,離子遷移實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。
•專用統(tǒng)計(jì)軟件
可實(shí)時(shí)編輯預(yù)覽監(jiān)測(cè)實(shí)時(shí)獲得的數(shù)據(jù)。
•專用連接試樣夾具
選配可使連接試樣及線纜更方便,試驗(yàn)效率更高。
面對(duì)電子產(chǎn)品越來越小型輕量及高密度封裝,因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫
高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng),可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè),高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。 適用標(biāo)準(zhǔn): JPCA-ET04、 IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、 IPC-TM-650_2.6.3.4A 、 IPC-TM-650_2.6.3.6。?
系統(tǒng)配置:
最大可接入路數(shù):512 路(128 路、256 路、384 路、512 路可選配)。
試驗(yàn)時(shí)間:0000:00:00 ~ 9999:59:59h,可任意設(shè)定。
測(cè)試電壓:5~1000VDC(可外接電源至 3000V,其他電壓可定制)
測(cè)試電壓精度: 5~20VDC(±3%);21~1000VDC(±1%)
絕緣電阻測(cè)試范圍:1╳106 - 1╳1014 Ω
電阻測(cè)量精度:
測(cè)試電壓為 5V 時(shí):1╳106 - 1╳1010 Ω ≤±5%;1╳1010 - 1╳1011 Ω ≤±10%
測(cè)試電壓為 50V 時(shí):1╳1011 - 1╳1012 Ω ≤±15%
測(cè)試電壓為 500V 時(shí):1╳1012 - 1╳1013 Ω ≤±20%