產(chǎn)品名稱:日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536
產(chǎn)品型號:
更新時(shí)間:2024-08-20
產(chǎn)品簡介:
專業(yè)為祖國用戶提供日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量服務(wù),為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,為原安捷倫Agilent產(chǎn)品技術(shù)支持工程師-堅(jiān)JET和吉時(shí)利KEITHLEY產(chǎn)品技術(shù)應(yīng)用工程師-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦的以技術(shù)支持為特色的代理貿(mào)易公司,志在破舊立新!*進(jìn)口儀器設(shè)備大多廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn),技術(shù)支持薄弱或沒有,而代理經(jīng)銷商也只專做銷售,不專業(yè)做售前技術(shù)答疑/測試方案,不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上測試行業(yè)經(jīng)驗(yàn),以我們*進(jìn)*的經(jīng)營理念,專業(yè)為祖國用戶提供儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量服務(wù),為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536性能特點(diǎn)
電解電容器的電容測量:
根據(jù)JIS標(biāo)準(zhǔn)測試電解電容器,電解電容的電容值在不同測試頻率下容值差異較大,因此需要根據(jù)實(shí)際回路的工作頻率來確認(rèn)電容值。
陶瓷電容器的電容測量:
陶瓷電容器可分為,隨電壓變化的高介電常數(shù)型和溫度補(bǔ)償型。JIS標(biāo)準(zhǔn)針對兩種陶瓷電容特性有不同的測試要求。使用LCR測試儀IM3536的頻率范圍DC,4Hz~8MHz,內(nèi)置電壓范圍10mV~5V,非常適合用于以上兩種不同要求的電容測試。
電感器(線圈)的電感測量:
電感器(線圈)所具備的電感和線圈的寄生電容中將LC共振現(xiàn)象稱為自諧振。 將產(chǎn)生這種自諧振的頻率稱為自諧振頻率。在評估線圈時(shí)請?jiān)诒茸灾C振頻率更低的頻率下測量L和Q。
測量電感器的頻率特性:
LCR測試儀IM3536的測量頻率較廣,可以設(shè)置為DC、4 Hz~8 MHz,非常適合于評估連續(xù)改變頻率的測量。在計(jì)算機(jī)中安裝附件LCR采用應(yīng)用軟件(CD-R),并通過接口(USB, GP-IB, RS-232C),可以進(jìn)行掃頻功能,自動(dòng)測量出的測量數(shù)值能夠以Excel或CSV格式進(jìn)行保存。
寬廣范圍的測量條件下,非常適用于進(jìn)行研發(fā)和評估實(shí)際使用條件的LCR測試儀
寬頻率范圍的LCR非常適用于研發(fā)和評估不同工作頻率范圍下壓電元器件和線圈等的諧振頻率。推薦用于評估壓電元件和線圈的共振頻率。若使用應(yīng)用軟件※則能夠簡單的對頻率、電壓和電流進(jìn)行掃描和測量。
可變頻率:DC, 4 Hz?8 MHz
電壓可變:10 mV?5 V(V模式/CV模式)
電流可變:10 μA?100 mA(CC模式)
※能夠使用計(jì)算機(jī)設(shè)置掃頻(或電壓、電流),并將測量數(shù)據(jù)以CSV或Excel格式保存。應(yīng)用軟件請使用標(biāo)配的CD進(jìn)行安裝,或從HP中下載。
連續(xù)測量功能:希望以1kHz檢查電源電感的L-Q,還想檢查直流電阻(Rdc)。這時(shí),1臺IM3536就可以在2種測試要求下進(jìn)行連續(xù)高速測試。
LCR測試儀在自動(dòng)化產(chǎn)線中測試可靠:測試線補(bǔ)償
線長補(bǔ)償設(shè)置可設(shè)置為:0 m / 1 m / 2 m / 4 m。測試線延長時(shí)也能保證精度。
LCR測試儀在自動(dòng)化產(chǎn)線中測試可靠:接觸檢查功能
4端子測量時(shí),預(yù)先設(shè)置判斷測試端與被測物的接觸狀態(tài)。 測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻,并在超過所設(shè)閾值時(shí)發(fā)出報(bào)警信號。
日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536基本參數(shù)
測量模式 LCR(單一條件下測量),連續(xù)測量(保存條件下連續(xù)測量)
測量參數(shù)Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流電阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
測量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程(所有參數(shù)由Z規(guī)定)
顯示范圍 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保證范圍:1mΩ~200MΩ)
測量頻率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進(jìn))
測量信號電平 [V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V)
[直流電阻測量]: 1 V固定
DC偏壓 發(fā)生范圍:DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時(shí)0 ~1 V)
輸出阻抗 通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
顯示 彩色TFT5.7英寸,觸摸屏
功能 比較器、BIN測量(2個(gè)項(xiàng)目10種分類),觸發(fā)功能、開路·短路補(bǔ)償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能
接口 EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
電源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
體積及重量 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件 電源線×1,使用說明書×1,CD-R(通訊說明書,LCR應(yīng)用光盤)×1
探頭·治具
使用9268-10或9269-10時(shí)需要外接的恒壓源、恒流源。
SMD測試治具IM9100直接連接型,底部有電極SMD用,DC~8MHz,可測量樣品尺寸:0402~1005(JIS)
4端子開爾文夾9140-10,DC~200kH,50 Ω,1 m長
測試治具9261-10,線長1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可測端口直徑:0.3~1.5mm
測試治具9262,DC~8 MHz, 直接連接型
SMD測試治具9263,直接連接型, DC~5 MHz 測試尺寸: 1mm~10.0mm
DC偏置電壓單元 9268-10,直接連接型,40Hz~8MHz,大外加電壓DC±40V
DC偏置電流單元 9269-10,直接連接型,40Hz~2MHz,大外加電流DC 2A(大外加電壓DC±40V)
4端子探頭 9500-10,線長1m,DC~200kHz,50Ω,可測導(dǎo)體直徑φ0.3mm~2mm
SMD測試治具9677,用于側(cè)面有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD測試治具9699,用于底部有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:寬1.0~4.0mm,高1.5mm以下
前端探針I(yè)M9901,用于更換L2001的前端的通用尺寸,L2001標(biāo)配
前端探針I(yè)M9902,用于更換L2001的前端的小型尺寸
4端子探頭L2000,DC~8MHz,1m長
鑷形探頭L2001,線長73cm,DC~8MHz,50Ω,前端電極間隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
PC通訊
GP-IB連接線9151-02,2m長
RS-232C 連接線 9637,9pin-9pin,1.8m長