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基礎信息Product information

產品名稱：日本巖崎IWATSU CS-5400半導體曲線圖示儀

產品型號：

更新時間：2024-08-20

產品簡介：

堅融實業(yè)——一家致力于為祖國用戶提供日本巖崎IWATSU CS-5400半導體曲線圖示儀儀器設備、測試方案、技術培訓、維修計量全面服務的儀器設備綜合服務商。

產品特性Product characteristics

專業(yè)儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術經理-堅JET與吉時利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產品經理-融YOO共同創(chuàng)辦，專注工業(yè)測試領域十六年，志在破舊立新！*進口儀器設備大多數(shù)廠家僅在國內設銷售點，但技術支持薄弱甚至沒有，而代理經銷商也只做商務，不做售前技術支持/測試方案和售后使用培訓/維修校準的空白。我們的技術型銷售均為本科以上學歷，且均有10年以上測試行業(yè)經驗，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購與技術工程師的工作，提供較有競爭力的供應鏈管理與售前售后技術支持。堅融實業(yè)——一家致力于為祖國用戶提供儀器設備、測試方案、技術培訓、維修計量全面服務的儀器設備綜合服務商。

日本巖崎IWATSU CS-5400半導體曲線圖示儀是新穎的曲線圖示儀, 可以支持大峰值從3,000V/400A至15,000V/8,000A. CS系列不僅適用于高電壓或高電流功率器件 (IGBT 和功率 MOSFET) 的特性測試, 還可用于各種半導體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測試, 及電力電子器件 (如 SiC 和 GaN) 的電容測試 (選件 CS-603A/CS-605A).  測試結果可以存儲在內存中, 或通過標配的USB 端口和 LAN 接口被發(fā)送到 PC.

日本巖崎IWATSU CS-5400半導體曲線圖示儀產品應用

適用于高電壓或高電流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半導體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測試

電力電子器件 (如 SiC和GaN) 的電容測量 (選件CS-603A/CS-605A)

可實行晶圓和芯片上的電容測試 (探針臺和選件CS-603A/CS-605A)

靜態(tài)特性測試包括漏電流, 飽和電壓, VF和Vth (附圖)

傳輸特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和電路模塊的測試功能

器件測試

可以在短時間內執(zhí)行多個器件的測試和記錄. 操作員只需根據(jù)器件替換和連接更改來輸入樣本名稱, 以重復相同的測試.  在既定條件下判斷 (通過/失敗) 將顯示每個測試與圖像和波形數(shù)據(jù)也將自動存儲(附圖)

半導體溫度特性測試評估

CS-810控制加熱板. 儘管測試需要很長的時間 (如溫度測試), 仍可自動執(zhí)行 (附圖)

痠勞測試

在痠勞測試中可以包含各種各樣的參數(shù). CS-810 軟件支持長時間可靠性測試.  通過曲線圖示CS-810監(jiān)察電壓和電流, 那些曲線的區(qū)別能被記錄下來.  痠勞測試可以實現(xiàn)多種參數(shù)的自動測量.  偏置會停止超越電流或電壓的限制值并以此設定為下限和上限的極限值.  CS-810 軟件測量 Ic 或 Vce (區(qū)間: 10s 至 2h) 和保持一定的電壓或電流 (10s 至 1,000h) (附圖)

與探針臺共用時, 可實現(xiàn)晶圓測試 (附圖)

產品功能

電子電力元件或器件測試波形特性的功能顯示 (附圖)

配備選件 CS-603A (3kV) 或 CS-605A (5kV), 可實現(xiàn)電子電力器件如SiC和GaN等的電容測試

在3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自動與掃描電容測試

曲線圖示儀的測試適配器可用于各種器件封裝類型

測試參數(shù)包括:

Cies, Ciss (輸入電容)

Coss (輸出電容)

Cres, Crss (反向傳輸電容)

Ct (端子間的電容)

Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已計算)

Rg (柵極電阻)

可實行晶圓和芯片上的電容測試 (探針臺和選件CS-603A/CS-605A)

具有外部聯(lián)鎖功能的恒溫箱高低溫試驗

與電腦全自動化結合

CS-810半導體參數(shù)測試軟件 (選件)

通過對主機的遠程控制, 可實現(xiàn)各種自動測試的軟件. 傳統(tǒng)上通過曲線圖示儀難以進行的疲勞測試. 加熱實驗或同時控制恒溫箱進行多溫度點實驗都可使用本軟件來實現(xiàn) (附圖)

USB 存儲器

圖像: 數(shù)據(jù)和設置條件

格式: TIFF, BMP, PNG保存格式 (背景可選擇為黑色或白色, 彩色或單色)

波形數(shù)據(jù): 文本文件和二進制文件

遠程控制工具

如因保密需要而冇法使用USB存儲器時, 可以通過安裝在PC的遠程控制工具進行數(shù)據(jù)存取

以太網(wǎng)

標準配置 (主機背面)

測試點數(shù)可調整.可根據(jù)需要的掃描速度及分辨率來設置. 根據(jù)不同用途可改變掃描方向.  同時具有客戶功能, 可以僅對某一段進行掃描, 特別是在自動測試時可以實現(xiàn)高速且高分辨率的測試(附圖)

限制掃描功能 (選件CS-800)

在一般的掃描測試中加入電流, 電壓的限制功能. 限制在被測模塊上印加的電流值, 電壓值以起到保護作用. 也可在達到目標值時停止掃描(附圖)

Vth-hFE自動檢測功能(選件CS-800)

可在條件設?後進行自動測試, 避免了之前的繁雜操作

Constant 功能 (選件CS-800)

可印加規(guī)定電壓或規(guī)定電流. 與CS-810半導體參數(shù)測試軟件配合使用時, 可使用半導體曲線圖示儀進行自動疲勞測試

溫度特性測試 (選件CS-810)

通過CS-810半導體測試軟件對曲線圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板的自動控制, 實現(xiàn)溫度特性評估試驗的全自動測試 (附圖)

CS-810是一個可安裝于電腦中的選件應用軟件. 通過以太網(wǎng)控制圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板等設備, 經簡單的設置後就可將一直以來只能手動測試的曲線圖示儀實現(xiàn)全自動化測試, 大幅地提升工作效率

全自動化測試:測試→記錄→判斷.  提高品管和品檢的工作效率 (附圖)

模塊或數(shù)個芯片, 器件自動切換測試

可自動控制加熱板, 全自動進行六合一模塊的溫度特性測量

測試結果窗口 (附圖)

波形比較功能:  可將產品開發(fā)時的不穩(wěn)定狀態(tài)或不良分析時測得的多個波形進行同屏比較, 或通過波形比較來判斷是否合格 (附圖)

產品特點

顯示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶顯示屏

正確測試半導體如IGBTs, MOSFETs, 晶體管和二極管解決方案

采用電路圖模式顯示內部的配線狀態(tài) (CONFIGURATION), 更好地避免模塊測試時的誤操作(附圖)

WAVE模式: 能確認實際印加電流和電壓波形的監(jiān)察模式 (附圖)

可以像示波器一樣通過觀察模塊上實際印加電流和電壓的波形來確定脈寬和實際測試點 (Timing)

可通關確認實際波形, 適時調整脈寬和測試點

避免示波器的探棒影響, 可確認實時的異常信號

可非常容易地確認模塊發(fā)熱等引起的振蕩等熱異常情況

可實現(xiàn)SiC和GaN等器件的電容測試 (選件CS-603A/CS-605A)

可實現(xiàn)晶圓和芯片上的電容測試 (探針臺和選件CS-603A/CS-605A)

標配LAN和USB接口

標準配件

CS-301: CS-3100標配測試臺S

CS-302: CS-3200和CS-3300標配測試臺M

CS-303: CS-5100, CS-5200和CS-5300標配測試臺M

CS-304: CS-5400標配測試臺M

測試臺M專用快裝面板: CS系列標配快裝面板 (除CS-3100外)

CS-500: CS-3100, CS-3200, CS-3300, CS-5100, CS-5200, CS-5300, CS-5400標配測試端口轉接夾具

CS-005: CS系列標配標準線套裝(除CS-3100外)

CS-006: CS-5400標配20cm高電流電纜 (2條)

CS-007: CS-10400, CS-10800, CS-12800, CS-15800標配30cm 高電流電纜 (2條)

LAN接口

USB接口

操作手冊

電源線

產品選項

CS-305: 測試臺L, 尺寸:  630mm (寬) x 520mm (高) x 530mm (深)

CS-307: 測試臺L, 尺寸:  500mm (寬) x 520mm (高) x 520mm (深)

CS-307H: CS-5400測試臺L

CS-306: CS-3xxx和CS-5xxx探針臺連接線 ((除CS-5400外)

CS-308: CS-5400探針臺連接線

CS-501A: TO 類測試夾具

CS-502: Axial 類測試夾具

CS-503: TO-263-3 (D2PAK) 類測試夾具

CS-504: TO-252-3 類測試夾具

CS-505: TO-263-7 類測試夾具

CS-506: TO-252-5 類測試夾具

CS-507: SC-70-3/SOT-323-3 類測試夾具

CS-508: SMD 芯片類測試夾具

CS-509: SC-59A/SOT-23-3 類測試夾具

CS-510: SC-62/SOT-89 類測試夾具